老化試驗箱對半導體材料的測試原理
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老化試驗箱對半導體材料的測試原理是為什么呢？海達儀器老化試驗箱HD-704一般可做二種測試：老化與耐黃變，老化：本機可促進(jìn)加硫橡膠之劣化，以計算加熱前后拉力及伸長(cháng)之變化率，一般認為在70 ℃下測試一天，理論上相當于暴露在大氣中6個(gè)月的時(shí)間。耐黃：本機是模擬大氣環(huán)境中，受陽(yáng)光紫外線(xiàn)照射，外觀(guān)變化一般認為在50℃下測試9小時(shí)，理論上相當于暴露在大氣中6個(gè)月的時(shí)間。
在老化階段進(jìn)行半導體測試之所以有意義有多種原因，在探討這些原因之前，我們首先要明確“測試”的真正含義。
一般半導體測試要用到昂貴的高速自動(dòng)測試設備，在一個(gè)電性能條件可調的測試臺上對半導體作測試。它還可以在標稱(chēng)性能范圍之外進(jìn)行，完成功能（邏輯）和參數（速度）方面的測試，像信號升降時(shí)間之類(lèi)的參數可到皮秒級。也許是因為可控測試環(huán)境只有一個(gè)器件作為電性負載，所以信號轉換很快，能夠進(jìn)行真實(shí)的器件響應參數測量。
但在老化的時(shí)候，為提高產(chǎn)品的產(chǎn)量是能夠同時(shí)對盡可能多的器件作老化。為滿(mǎn)足這一要求，可把多個(gè)器件裝在一個(gè)大的印刷線(xiàn)路板上，這個(gè)板稱(chēng)為老化板，它上面的所有器件都并聯(lián)在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和只測試一個(gè)器件的小測試臺相比，因為老化板上的容性和感性負載會(huì )給速度測試帶來(lái)麻煩。所以我們通常無(wú)法用老化進(jìn)行所有功能測試。不過(guò)在某些情況下，運用特殊的系統設計技術(shù)在老化環(huán)境下進(jìn)行速度測試也是可能的。
老化系統中的“測試”可以指任何方面，從對每一器件每一管腳進(jìn)行基本信號測試，到對老化板上的所有器件作幾乎100%功能測試，這一切均視器件復雜性及所選用的老化測試系統而定?？梢哉f(shuō)對任何器件進(jìn)行100%功能測試都是可以做得到的，但是這樣采用的方法可能會(huì )減少老化板上的器件密度，從而增加整體成本并降低產(chǎn)量。
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