高低溫試驗箱的試驗方法與標準如何進(jìn)行選擇   
   高低溫試驗箱通常被用來(lái)做高溫試驗、低溫試驗以及高低溫試驗的組合，其各種試驗的試驗方法與標準選擇一般以以下為準：

   高溫和低溫試驗是zui常見(jiàn)的一種環(huán)境試驗項目。低溫試驗對產(chǎn)品產(chǎn)生的影響主要使材料變成脆硬性，致使破損開(kāi)裂，強度降低，潤滑作用減小，電子元器件性能引起變化等。高溫試驗對產(chǎn)品的影響主要表現在改變材料的物理性能和尺寸，不同的材料膨脹不一致使零件粘結，潤滑劑外流使潤滑能力損失，電器元件過(guò)熱損壞，電子電路穩定性改變等。如對帶有塑膠件的產(chǎn)品這二項試驗就很能夠暴露問(wèn)題。

    高溫和低溫試驗試驗一般安排在一套試驗的早期，且為相信順序，這樣既能夠考核等高溫對的耐高溫和低溫能力也能夠達到耐溫變試驗的效果。高溫和低溫試驗依據國標GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法A：低溫試驗方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法B：高溫試驗方法》。有散熱樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸變所做的規定來(lái)選擇，分為高溫工作和低溫工作試驗、高溫存儲和低溫存儲試驗，據實(shí)際樣品所屬是否散熱用工作和存儲兩種不同溫度點(diǎn)和產(chǎn)品狀態(tài)來(lái)進(jìn)行合適的考量。高溫和低溫工作試驗的溫度嚴酷度一般低于存儲類(lèi)溫度5～10℃。在實(shí)際檢測中先進(jìn)行工作試驗考核后再做關(guān)機狀態(tài)下存儲試驗，對于部分大電流、高發(fā)熱的電器產(chǎn)品，其高溫工作試驗可以代替高溫存儲試驗，因為其工作時(shí)溫度已經(jīng)超出其存儲溫度極限，故只需進(jìn)行高溫工作試驗即可。常見(jiàn)的高溫工作試驗溫度有：40℃、50℃，高溫存儲試驗溫度有：50℃、55℃，低溫工作試驗有：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲試驗溫度有：-20℃、-40℃，工作試驗時(shí)間2h～4h～8h，存儲試驗8h～16h～24h。通常高溫和低溫試驗能夠暴露出產(chǎn)品的缺陷如：外殼變形，電性能故障不能正常運行等，從而達到整改的目的。如產(chǎn)品高溫可靠性試驗也是高溫工作試驗一種。

    高低溫組合也是覺(jué)的試驗項目(推薦使用可程式高低溫試驗箱)，多用來(lái)更嚴酷地考核產(chǎn)品內外結構性能和電性能。

a)溫度沖擊試驗-溫度突變Na是目前常用來(lái)考核元器件和材料一種試驗。高低溫沖擊試驗是通過(guò)快速溫變來(lái)達到考核產(chǎn)品的目的，因為屬于非工作狀態(tài)高低溫沖擊試驗的指標上、下限多采用高、低溫存儲試驗的上、下限，可參照試驗樣品在高、低溫存儲試驗中獲得的的溫度響應特性等信息。    b)溫度變化試驗-溫度漸變Nb常用來(lái)考核整機試驗。在試驗中產(chǎn)品按要求可處于工作狀態(tài)，因此溫度變化試驗的上、下限往往使用高、低溫工作試驗的上、下限。這二項試驗參照的標準有GB/T 2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》等，根據實(shí)際要求選擇高溫點(diǎn)和低溫點(diǎn)，滯留時(shí)間，溫變速率，循環(huán)次數定試驗等級。